镀锡测厚仪采用非破坏式的X射线荧光光谱分析法（XRF）。仪器由主机、测试头、计算机等部分组成，可用于测量金属表面的厚度、含量以及各种化学元素的含量。它可以快速、准确地测量各种金属镀层和基材之间的界面，以及不同金属之间的中间层的密度。测量精度高，不影响被测物体的结构完整性和功能，被广泛应用在金属材料加工行业的质量控制领域。
镀锡测厚仪使用流程：
1.准备工作
a.确定被测试材料及其表面处理材料的物理性质；
b.确保被测试板块表面清洁无尘；
c.插上电源，打开电源开关，等待设备自检完成。
2.测量操作
a.处理被测试板块上镀液的位置，确保测量头与被测试部位接触；
b.选择需要测量的金属元素种类（例如镍、锡等）；
c.将充电电源接头固定在金属板上，保持稳定，避免因移动而导致测量数据不准；
d.点击“开始测量”按钮，待测试结果呈现。
镀锡测厚仪安全操作注意事项：
1.镀层厚度尽量大于10微米，且在保证测量精度的基础上，尽量保证测量点的数目越多，测试结果才会更加准确；
2.严格遵守安全操作规程，保证人员和设备的安全；
3.每日操作前，要检查设备及其连接线路是否正常，减少故障状况出现的概率；
4.在使用时，要随时观察并记录测量数据，及时进行数据分析和处理。
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