尼克斯膜厚仪和涂层测厚仪是一类产品。一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
QNix 4500尼克斯膜厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，
台式的荧光X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时，产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度。
带校准证书尼克斯双功能涂镀层测厚仪，提供第三方机构校准证书，真品现货供应。咨询。德国尼克斯双功能涂层测厚仪是一款测量范围达到5000μm的大量程涂层厚度测试仪器。该仪器能够储存3900个测量值，999个数据组，并且可通过RS232接口进行现场打印（外接迷你打印机）或者上传电脑。
https://www.chem17.com/st347593/list_1520001.html
http://www.q-nix.net/Products-27906600.html
