一、iEDX-150WT型PCB镀层测厚仪主要参灵数：
1、多镀层，1～5层；
2、测试精度：0.001 μm；
3、元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；
4、测量时间：10~30秒；
5、SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；
6、探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；
7、微焦X射线管50KV/1mA，钼、钨、铑靶；
8、标配6个准直器及多个滤光片自动切换；
9、XYZ轴全自动三维移动平台，荷载为5公斤；
10、高清CCD摄像头，精确监控位置；
11、多变量非线性去卷积曲线拟合；
12、高性能FP/MLSQ分析；
13、仪器尺寸 830×475×385mm；
14、平台XY移动范围192×250mm；
15、中、英、韩文可切换软件操作界面；
16、可选配其它准直器。
二、图谱界面：
1、软件支持无标样分析；
2、开放式大分析平台；
3、可自动连续多点分析；
4、开放式可编程；
4、集成了镀层分析界面和合金成分分析界面；
5、采用多种光谱拟合分析处理技术，正宗FP法；
6、提供MES数据端口；
7、可外接扫码枪；
三、分析报告结果：
1、直接打印分析报告
2、报告可转换为PDF，EXCEL格式
四、iEDX-150WT型PCB镀层测厚仪样品分析图谱：
五、测试结果界面：
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