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热膨胀仪 DIL 806

   日期:2024-01-26 16:06:34     浏览:6    
核心提示:DIL 806采用了阴影光的方法。在该方法中,通过测量CCD探测器上样品的阴影来测量一个方向上样品的尺寸的大小。 高强度的GaN LED发出平面光,通过一个扩散单元和准直透镜,产生高度均匀的、短波平面光。该光的一部分被
DIL 806采用了阴影光的方法。在该方法中,通过测量CCD探测器上样品的阴影来测量一个方向上样品的尺寸的大小。 高强度的GaN LED发出平面光,通过一个扩散单元和准直透镜,产生高度均匀的、短波平面光。该光的一部分被样品阻挡。有阴影的光束通过远心光学系统进行精细处理,并由高分辨率的CCD探测器记录。数字边缘检测自动确定阴影的宽度,进而测定样品的尺寸。

测量的优势

DIL806测量本质上是一个的测量,不受随温度程序变化的系统热膨胀的影响。 只有样品经历温度的变化,光源和检测器与这些变化相隔离。因此,测量是的,不需要进行顶杆式膨胀仪使用中常见的特定测试的校准。

炉体技术

DIL806采用了创新的板形炉,提供了的温度均匀性和响应时间。样品放置于宽平面加热元件的中心,加热元件的尺寸远远大于样品,防止了在横向方向上的温度梯度。炉盖内有一个类似的加热元件,位于样品的正上方,可以zui大限度地减少垂直温度梯度。炉体能够提供100℃/min的快速加热以及10分钟内从1400℃至50℃的冷却时间。快速的加热和冷却速度,保证了样品高通量以及温度快速变化下过程的

表征。炉体的动态反应也使得DIL806特别适合仪器的控制软件所支持的速率控制烧结实验。自定义软件包允许用户定义一个目标的烧结(收缩)率。可根据样品特性,通过增加或减小加热速率实时调整温度,以达到目标速率。

非接触式测量的优越性

非接触式的测量系统提供了以下几个优点。因为没有直接施加负载到样品上,因此即便是zui柔软的材料也可以获得zui高的测量精度。包括薄膜,或质地柔软测量或在实验过程中发生软化的材料。由于与测量系统无物理接触,进一步提高了温度均匀性。顶杆可以作为散热件,在与样品接触点处产生热点或冷点。而DIL806是没有这些接触点的,确保了整个样品在整个实验过程中温度的均匀,无需考虑实验中的温度分布。广泛的测量面积大大简化了样品位置。仪器的测量面积,宽30毫米,在这个范围内的任何位置放置样品,仪器均能表现出优异的工作性能。这样就简化了样品装载,去除样品位置的严格限制。

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