X射线镀层测厚仪

X射线镀层测厚仪

X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

1、适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。

2、可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。

3、应用广泛，适应电镀生产企业，产品来料检测等。

仪器特点：

1、全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量

2、多功能、高精度、使用方便快捷。测量时间只需10秒；

3、可测0.03um-35um，精度可达正负5%以内适用范围广、操作简便。

功能及应用：

1、检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚；

2、可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材；

3、单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等；

4、双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等；

5、多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等；

6、合金镀层：铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等；

测量精度：

表层：±5%以内，第二层：±10%以内，第三层：±15%以内

型号规格

1、L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

2、H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

https://www.chem17.com/st420157/list_1945950.html

http://www.micropioneer.com.cn/Products-35647017.html